高加速壽命試驗(yàn),HALT/HASS測(cè)試設(shè)備

服務(wù)內(nèi)容

高加速壽命試驗(yàn)測(cè)試流程

一、樣品信息背景調(diào)查，試驗(yàn)前應(yīng)對(duì)樣品進(jìn)行充分的分析,評(píng)估可能發(fā)生失效或故障的元部件、連接措施、焊接工藝等。宜提前準(zhǔn)備替代或修復(fù)措施。

二、試驗(yàn)前確保被試品的安裝要求

a) 確保熱電偶（控制熱電偶）被正確的安裝在測(cè)試樣本上，以便于提供參考給試驗(yàn)箱溫度設(shè)置調(diào)整點(diǎn)。產(chǎn)品的熱電偶必須放置在測(cè)試單元的外表面，最好放在低熱量聚集的地方。這些熱電偶不應(yīng)該放置在產(chǎn)生熱量的器件附近或者產(chǎn)品密封部分的內(nèi)部。產(chǎn)品的響應(yīng)熱電偶應(yīng)當(dāng)被安裝在能夠充分評(píng)估樣本在溫度環(huán)境下響應(yīng)的位置。建議安裝位置包括產(chǎn)生主要熱量的器件、溫敏器件。

b) 確保安裝在振動(dòng)臺(tái)的測(cè)試樣本使用了合適的樣本夾具，從而能夠使得測(cè)試樣本獲得最大的溫度和振動(dòng)應(yīng)力。產(chǎn)品響應(yīng)加速計(jì)應(yīng)該被安裝在能夠充分評(píng)估產(chǎn)品對(duì)輸出振動(dòng)響應(yīng)的位置。建議安裝位置：靠近固定硬件、最大的反饋點(diǎn)（PCB 中央）或者疑似的薄弱位置。

三、高加速壽命試驗(yàn)具體試驗(yàn)項(xiàng)目：

a) 溫度步進(jìn)試驗(yàn)，包括：低溫步進(jìn)應(yīng)力試驗(yàn)和高溫步進(jìn)應(yīng)力試驗(yàn)；

b) 快速溫度變化試驗(yàn)；

c) 振動(dòng)步進(jìn)試驗(yàn)；

d) 綜合環(huán)境應(yīng)力試驗(yàn)；

e) 回歸驗(yàn)證。

服務(wù)范圍

本測(cè)試適用于電工電子產(chǎn)品及其電子部件、印制電路板組件等。對(duì)于大型整機(jī),宜優(yōu)先考慮在前端的裝配級(jí)別(如印制電路板組件、子模塊)上進(jìn)行試驗(yàn)。還適用于電工電子產(chǎn)品的研發(fā)、設(shè)計(jì)和(或)試產(chǎn)階段,也可用于批量生產(chǎn)階段。

檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 34986—2017/IEC62506:2013 產(chǎn)品加速試驗(yàn)方法 GB/T 29309-2012 電工電子產(chǎn)品加速應(yīng)力試驗(yàn)規(guī)程高加速壽命試驗(yàn)導(dǎo)則 

  檢測(cè)項(xiàng)目 

電工電子產(chǎn)品及其電子部件、印制電路板組件等產(chǎn)品各研制高加速試驗(yàn)（HALT/HASS）試驗(yàn)。高加速壽命試驗(yàn),HALT/HASS測(cè)試設(shè)備

相關(guān)資質(zhì)

CNAS

測(cè)試周期

1周~2周

服務(wù)背景

為什么要做此測(cè)試？

1、快速發(fā)現(xiàn)設(shè)計(jì)及程序的限制因素

2、評(píng)估和改良產(chǎn)品設(shè)計(jì)極限

3、找到極限制時(shí)間統(tǒng)計(jì)特色的信息

4、減少研發(fā)時(shí)間及成本

5、正式量產(chǎn)前即消除設(shè)計(jì)上的問題

5、作為工程工具作為評(píng)估改變對(duì)產(chǎn)品造成的影響

我們的優(yōu)勢(shì)

廣電計(jì)量經(jīng)過在軌道交通檢測(cè)數(shù)年積累，形成了博士8人、碩士59人的專業(yè)人才團(tuán)隊(duì)，各方面研究方向同步業(yè)內(nèi)良好研究進(jìn)展，研究設(shè)備均為業(yè)內(nèi)專業(yè)的多套設(shè)備（Qualmark公司的Typhoon 4.0 inferno型設(shè)備）。高加速壽命試驗(yàn),HALT/HASS測(cè)試設(shè)備